Originalsprog | Engelsk |
---|---|
Tidsskrift | Biometrika |
Vol/bind | 92 |
Udgave nummer | 3 |
Sider (fra-til) | 507-517 |
Antal sider | 11 |
ISSN | 0006-3444 |
Status | Udgivet - 2005 |
Likelihood ratio tests in curved exponential families with nuisance parameters present only under the alternative
Christian Ritz, Ib Michael Skovgaard
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
13
Citationer
(Scopus)