Likelihood ratio tests in curved exponential families with nuisance parameters present only under the alternative

Christian Ritz, Ib Michael Skovgaard

    Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

    13 Citationer (Scopus)
    OriginalsprogEngelsk
    TidsskriftBiometrika
    Vol/bind92
    Udgave nummer3
    Sider (fra-til)507-517
    Antal sider11
    ISSN0006-3444
    StatusUdgivet - 2005

    Citationsformater