Single-Atom Sensitive STEM and TEM of MoS2 Nanocatalysts – Atoms on the Edge, International Symposium on Role of Electron Microscopy in Industry, Nagoya (2012)

Erik Johnson

Publikation: Andet › Andet bidrag › Forskning

OriginalsprogEngelsk
Publikationsdato19 jan. 2012
UdgivelsesstedNagoya University
StatusUdgivet - 19 jan. 2012

Adgang til dokumentet

Citationsformater